WRÓĆ DO STRONY
GŁÓWNEJ
Technowinki

Ważne usprawnienie akumulatorów Li-S

Akumulatory litowo-siarkowe (Li-S) od lat traktowane są jako potencjalna alternatywa dla używanych dzisiaj litowo-jonowych (Li-ion). Cechuje je znacznie większa pojemność w stosunku do masy. Ilość kilowatogodzin przechowywanych w kilogramie baterii Li-S może być aż czterokrotnie wyższa niż w kilogramie popularnych dzisiaj baterii litowo-jonowych.

O ile czterokrotnie pojemniejsze baterie stanowiłyby wybawienie dla uzależnionych dziś od ładowarki posiadaczy smartfonów i pomogłyby spopularyzować w końcu samochody elektryczne, zapewniając im zasięg już nie mniej niż 500 km przy spokojnej jeździe, ale pozwalający na przejechanie z Warszawy do Paryża na jednym ładowaniu, to akumulatory litowo-siarkowe nie są pozbawione wad.

Już po kilku cyklach ładowania w akumulatorach typu Li-S pojawić się mogą widoczne ślady zużycia zarówno elektrod jak i elektrolitu. Co więcej, ogniwa takie bardzo źle znoszą pracę w wysokich temperaturach. I pisząc o wysokich, nie mam na myśli temperatur wysokich dla silników rakietowych czy wysokich dla mięsa z grilla, ale wysokich dla człowieka.

Badacze z University of Western Ontario, we współpracy z firmą Canadian Light Source, opracowali metodę wytwarzania ogniw litowo-siarkowych pozwalającą na otrzymanie produktu o znacznie wyższej wytrzymałości na wysokie temperatury. W oparciu o znaną metodę ALD (atomic layer deposition) stworzyli metodę MLD (molecular layer deposition), która pozwala na pokrycie materiałów cienkim filmem już nie pojedynczych atomów, ale całych cząsteczek, w tym organicznych. Dzięki nowej metodzie udało im się uzyskać akumulatory litowo-siarkowe mogące pracować w temperaturze dochodzącej do 55 stopni celsjusza.

To wciąż za mało, żeby móc bezpiecznie używać akumulatorów litowo-siarkowych w telefonach, laptopach, czy samochodach, jednak jest to krok w dobrą stronę, pokazujący, że być może nie jesteśmy skazani na wieczne używanie niezbyt pojemnych akumulatorów litowo-jonowych.

[źródło i grafika: spectrum.ieee.org]